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遠紅外放射率分析儀概述
日期：2025-07-03 10:45
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摘要：
遠紅外放射率分析儀概述
遠紅外放射率分析儀簡介：
遠紅外放射率分析儀簡介：
? 本測量器可以用非常簡單且高精度的方式,測量在常溫中的各種物體的放射率。
? 本測量器早已經由宇宙開発、原子力、半導體產業(yè)等的**技術分類上所采用。從研究開発應用至生產線上的應用等，可供活用的范圍非常廣泛。
? 選配記錄器，可將所測量值記錄并連接PC獲取數(shù)據(jù)及繪制曲線，分析放射曲線、*大、*小、平均值。
遠紅外放射率分析儀構成：
? １．紅外線照射源
? 藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在試料中集中照射。
? ２．紅外線檢驗素子
? 從試料反射出的能量的一部分，射進半球面黒體爐的頂點的小孔，用一定比率做檢驗。
? 注：比率是依據(jù)光學系的構造來決定。
? ３．放射率演算回路
? 從反射能量檢驗器的輸出，演算試料的放射率。
? 注：試料的反射率和放射率的關系式如下：r εε＝１－r
? ４．放射率表示値的校正
? 利用附屬的放射率基準片（ε＝０．０６與０．９４）做校正
測量原理：利用恒溫放射的遠紅外線放射源，將能量照射后計算所反射的能量。
測量波長：2-22μｍ
測量范圍：0.00-1.00
額定精度：±0.01
測量面積：Φ15mm
測量距離：12mm（固定偵測頭的腳柱部）
被測物溫：10-40℃（室溫）
輸 出：0-0.1V，0-1V（滿載）
使用溫度：10-45℃
使用濕度：35-85%RH（未結露、霜之狀態(tài)）
使用電源：AC100V ±10%，50/60Hz
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